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微型高低溫箱，IC用高 低溫測試箱適用于IC,PCB板、晶圓，可控硅，半導體，電阻、電容、電工、電子產品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關產品零部件在高溫、低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，考核其各項性能指標。可單獨做高溫、低溫；也可用于高溫、低溫的循環試驗。
JS-GDW002高低溫試驗箱
微型高低溫箱，IC用高 低溫測試箱特點及用途
微型高低溫試驗箱適用于IC,PCB板、晶圓，可控硅，半導體，電阻、電容、電工、電子產品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關產品零部件在高溫、低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，考核其各項性能指標。可單獨做高溫、低溫；也可用于高溫、低溫的循環試驗。
《GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件》
《GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件》
《GB/T 2421/2/3/4-2008 電工電子產品環境試驗》
《GJB 150A-2009 軍裝備實驗室環境試驗方法》
《GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法》
《JJF 1101-2003 環境試驗設備溫度、濕度校準規范》
《GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備》
微型高低溫箱，IC用高 低溫測試箱主要技術參數：
1、溫度范圍： -75、-40℃~150℃；
2、溫度波動度：≤±0.5℃；
3、溫度均勻度：≤±2℃ ；
4、內腔尺寸（W×H×D)：300×300×225 （mm）；
5、外形尺寸（W×H×D)：460×910×785 （mm）；
6、電源： 220V 50Hz 2.5KW。
