SEM掃描電鏡，臺式掃 描電子顯微鏡

SEM掃描電鏡，臺式掃 描電子顯微鏡簡介
    掃描電子顯微鏡利用細聚焦電子束在樣品表面逐點掃描，與樣品相互作用產行各種物理信號，這些信號經檢測器接收、放大并轉換成調制信號，最后在熒光屏上顯示反映樣品表面 各種特征的圖像。掃描電鏡具有景深大、圖像立體感強、放大倍數范圍大、連續(xù)可調、分辨 率高、樣品室空間大且樣品制備簡單等特點，是進行樣品表面研究的有效分析工具。
    目前, 掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學（主要用來觀察生物體，微生物，組織器官等）、物理學、化學、電子（在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、LED、元器件、PCB板及MEMS器件等的形態(tài)或缺陷）、地球科學、材料學（在材料研究、地質、半導體和微電子、汽車、航空航天等相關行業(yè)的研究和生產中，掃描電鏡發(fā)揮著巨大的作用）以及工業(yè)生產等領域的微觀研究, 僅在地球科學方面就包括了結晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質、油氣地質、工程地質和構造地質等。 
SEM掃描電鏡，臺式掃 描電子顯微鏡技術參數：
放大倍數：60000x /150000x
加速電壓：500V - 15kV
電子源:預對中鎢燈絲
聚光鏡:兩級電磁變焦聚光鏡
樣品臺:X-Y兩軸自動樣品臺
樣品臺移動范圍:30mm×30mm
標準配置：
背散射電子探測器
二次電極探測器
CCD光學導航
SEM掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡的特點：
1.操作便捷：只需鼠標就可完成所有操作，不需對中光闌等復雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。
2.快速成像：掃描速度快，信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。
3.性能穩(wěn)定：一體式機身設計，非前后或上下連體，增強電鏡穩(wěn)定性，降低故障率。
4.節(jié)約空間：主機集成高壓及控制系統，體積小巧，便于移動。
5.便于安裝：安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電就可工作。